Kelvin Probe Force Microscopy - From Single Charge Detection to Device Characterization
- Författare
- (Edited by Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel.)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Springer International Publishing, Imprint: Springer | 2018 | Tyskland, Cham | XXIV, 521 sidor. 234 illus., 194 illus. in color. online resource. | 978-3-319-75687-5 |